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| 品牌 | StellarNet | 價格區間 | 20萬-30萬 |
|---|---|---|---|
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,能源,電子/電池,綜合,半導體 |
StellarNet 激光測量系統介紹:
可測量並跟蹤激光頻率與質心波長,光譜分辨率最高可達 0.05nm
激光分析系統組成:微型光譜儀、光纖線纜(或直接對接接口)、集光附件 / 積分球,以及可溯源至 NIST 的強度校准
搭配積分球,系統可同時完成以 mW(毫瓦)為單位的絕對光強校准測量
內置自動尋峰算法與間歇式數據採集功能,監測激光波長漂移
光譜儀硬件配置可選,測量波段覆蓋 190‑2300nm
StellarNet 微型光譜儀為光纖耦合式儀器,擁有豐富機型可選,支持 200‑1150nm 波段範圍內的激光測量。

HR 高分辨率光譜儀,在使用相同光柵的條件下,分辨率為標準型號的 2 倍;同時波長測量範圍會同等比例縮減。根據所選機型波段、探測器以及狹縫尺寸,可實現優於 0.1nm的光譜分辨率。

在光纖通信領域,波分復用(WDM)技術會用到近紅外高分辨率光譜儀。波分復用的原理是:在單根光纖內傳輸多路不同波長的激光,不同波長(光色)的激光分別承載獨立信號。常規 WDM 系統的通信信道工作在石英光纖的 C 波段,中心約 1550 nm。StellarNet 採用可調諧激光源對這套高分辨率設備完成校准。推薦選用 NIR3‑HR InGaAs 1024,測量波段覆蓋 1500‑1640 nm,半高全寬(FWHM)可達 0.7 nm。

StellarNet 激光測量系統組成部分:
StellarNet 光譜儀、光纖線纜、接收器件(余弦接收器或積分球),輻照度校准為可選配置。
高分辨率光譜儀型號參數:
| 光譜儀型號 | 波長範圍 (nm) | 光柵 (g /mm) | 光柵覆蓋區間 (nm) | 色散 (nm / 像素) | 25μm 狹縫分辨率 (nm) | 14μm 狹縫分辨率 (nm) |
|---|---|---|---|---|---|---|
| HR‑UV3 | 200‑300 | 2400 | 100 | 0.048 | 0.21 | 0.14 |
| HR‑UV3b | 300‑400 | 2400 | 100 | 0.048 | 0.21 | 0.14 |
| HR‑UV4 | 200‑340 | 1800 | 140 | 0.068 | 0.30 | 0.20 |
| HR‑VIS | 350‑750 | 600 | 400 | 0.195 | 1.20 | 0.80 |
| HR‑NIR | 500‑900 | 600 | 400 | 0.195 | 1.20 | 0.80 |
| HR‑NIR2 | 900‑1075 | 1200 | 175 | 0.085 | 0.80 | 0.40 |
| HR‑NIR3 | 750‑850 | 1800 | 100 | 0.049 | 0.30 | 0.20 |
| HR‑NIR4 | 500‑580 | 2400 | 800 | 0.039 | 0.12 | 0.08 |